TOF SIMS

TOF SIMS
 TOF SIMS
 (Time of Flight Secondary Ion Mass-Spectrometry)
 Масс-спектрометрия вторичных ионов с время-пролётной масс-сепарацией
  Метод локального анализа, основанный на регистрации спектра масс ионов, возникающих в результате ионного травления исследуемого образца.

Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.. . 2009.

Игры ⚽ Поможем решить контрольную работу

Смотреть что такое "TOF SIMS" в других словарях:

  • SIMS — Spectrométrie de masse à ionisation secondaire SIMS (Spectrométrie de masse à ionisation secondaire) Le procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant Secondary Ion Mass Spectrometry consiste à… …   Wikipédia en Français

  • GCxGC-TOF-MS — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… …   Deutsch Wikipedia

  • Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… …   Wikipedia

  • Spectromètre de masse à temps de vol — Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952[1]. La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry) est une méthode de spectrométrie de masse dans laquelle les ions sont accélérés par un …   Wikipédia en Français

  • Spectromètres de masse à temps de vol — Spectromètre de masse à temps de vol Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952.[1] La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry ) est une méthode de Spectrométrie de masse dans… …   Wikipédia en Français

  • Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the …   Wikipedia

  • Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS classification =Mass spectrometry analytes = Solid surfaces, thin films related = Fast atom bombardment… …   Wikipedia

  • Chemical state — Contents 1 Overview 2 Measurement and Interpretation 3 Significance 4 Closely related nomenclature …   Wikipedia

  • масс-спектрометрия вторичных ионов — Термин масс спектрометрия вторичных ионов Термин на английском secondary ionization mass spectrometry Синонимы Аббревиатуры МСВИ, ВИМС, SIMS Связанные термины масс спектрометр, протеомика Определение Деструктивный метод химического анализа… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

  • ALH84001 — Meteorite Name= Allan Hills 84001 Image caption= Meteorite fragment ALH 84001 Image width= Type= Achondrite Class= Martian meteorite Group= ALH 84001 Structural classification= Composition= Shock= B Weathering= A/B Country= Antarctica Region=… …   Wikipedia


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»