- TEM
- Transmission Electron Microscope(TEM)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Прибор, создающий увеличенное до TEM106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.
Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.. В.В.Арсланов. 2009.