Atomic Force Microscope


Atomic Force Microscope
 Atomic Force Microscope
 (AFM)
 Атомно-силовой микроскоп (АСМ)
  Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.
 ♣ Принцип работы атомно-силового микроскопа

Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.. . 2009.

Смотреть что такое "Atomic Force Microscope" в других словарях:

  • Atomic force microscope — Microscope à force atomique Pour les articles homonymes, voir AFM et Microscope. Le premier microscope à force ato …   Wikipédia en Français

  • atomic force microscope — n an instrument used for mapping the atomic scale topography of a surface by means of the repulsive electronic forces between the surface and the tip of a microscopic probe moving above the surface abbr. AFM …   Medical dictionary

  • Atomic force microscope — The atomic force microscope (AFM) or scanning force microscope (SFM) is a very high resolution type of scanning probe microscope, with demonstrated resolution of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction… …   Wikipedia

  • atomic force microscope — atominės jėgos mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas paviršiaus ypatumams tirti kontroliuojant specialaus zondo sąveikos su paviršiumi jėgą. atitikmenys: angl. atomic force microscope rus. микроскоп атомной силы …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

  • atomic force microscope — noun A device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface See Also: atomic force microscopy …   Wiktionary

  • atomic force microscope — A type of scanning probe microscope that images a surface by moving a sharp probe over the surface at a constant distance; a very small amount of force is exerted on the tip and probe movement is followed with a laser …   Dictionary of microbiology

  • atomic force microscopy — n the art or process of using an atomic force microscope abbr. AFM …   Medical dictionary

  • Magnetic force microscope — MFM images of 3.2 GB and 30 GB computer hard drive surfaces. Magnetic force microscope (MFM) is a variety of atomic force microscope, where a sharp magnetized tip scans a magnetic sample; the tip sample magnetic interactions are detected and used …   Wikipedia

  • Electrostatic force microscope — Electrostatic force microscopy (EFM) is a type of dynamic non contact atomic force microscopy where the electrostatic force is probed. ( Dynamic here means that the cantilever is oscillating and does not make contact with the sample). This force… …   Wikipedia

  • Friction force microscope — A friction force microscope is an atomic force microscope with a four quadrant photodetector, which allows measuring the frictional force acting on the probing tip sliding on a surface from the torsion of the cantilever beam where the tip is… …   Wikipedia

Книги

Другие книги по запросу «Atomic Force Microscope» >>


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»

We are using cookies for the best presentation of our site. Continuing to use this site, you agree with this.