магнитная силовая микроскопия

 Magnetic Force Microscopy

 (MFM)

 Магнитная силовая микроскопия (МСМ)

  Разновидность АСМ. Является эффективным средством магнитных исследований на субмикронном уровне. Изображения, получаемые с помощью МСМ, отображают пространственное распределение некоторых параметров, характеризующих магнитное взаимодействие зонд-образец, т.е. силу взаимодействия, амплитуду колебаний магнитного зонда и пр. Датчик МСМ является обычным кремниевым (или нитридным) датчиком АСМ, покрытым тонкой магнитной пленкой. МСМ измерения позволяют с высоким разрешением исследовать магнитную доменную структуру, проводить запись и считывание информации в магнитной среде, исследовать процессы перемагничивания и т.д.

 

 Получение «магнитного» изображения с помощью МСМ. 1-й проход – запись профиля поверхности с помощью специальной иглы; 2-й проход – задается та же траектория, но на высоте 10 – 50 нм от поверхности образца.